EM8100

Улучшенный cканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки

Это модернизированная версия EM8000 с улучшенным ускоряющим напряжением в электронно-лучевой трубке, изменяемым вакуумным режимом, возможностью иследования непроводящего образца при низком напряжении без напыления. Имеет простую и удобную систему управления, с возможностью расширения. Это первый сканирующий электронный микроскоп с электронной пушкой с полевой миссией, который имеет разрешение менее 1 нм при 30 кВ.

Многоязычная операционная система, встроенная панель дистанционного управления с трекболом, комплексный план послепродажного обслуживания с пожизненной технической поддержкой.

Особенности 

◆ Высокоэффективная электронная пушка с полевой эмиссией с катодом Шоттки, хорошая монохромность, тонкий электронный пучок;

◆ Отличная яркость и высокое разрешение при низком ускоряющем напряжении;

◆ Возможность ускорения и замедления пучка электронов;

◆ Возможность исследования непроводящих образцов и образцов чувствительных к пучку электронов, без напыления проводящим материалом при низком напряжении;

◆ Стабильный электронный пучок и незначительная дисперсия позволяют проводить различные точные анализы образцов в течение длительного времени;

◆ Превосходные характеристики ускорения электронов при низком давлении;

◆ Низкое энергопотребление;

◆ Простой и удобный интерфейс управления;

◆ Большая камера для образцов, удовлетворяющая различным потребностям пользователей при проведении исследований;

◆ Большой пятиосевой автоматизированный столик;

◆ Длительный срок службы,.

Область применения

Аккумуляторы, полупроводники, композиционные материалы, полимеры, животные и растения, микроорганизмы, порошковая металлургия, полезные ископаемые, металлургическая промышленность, строительные материалы, химические материалы, керамические материалы.

Размеры

Электронно-оптическая колонна: 1000×1000×1730 (мм)

Блок электроники и управляющий компьютер: 1330×850×740 (мм)

Модификации

EBL (система электронно-лучевой литографии), STM (сканирующий туннельный микроскоп), АFМ (атомно силовой мкроскоп), столик для нагрева, крио столик, столик для растяжения, наноманипулятор, ручной блок управления, трекбол, SEM+система напыления, SEM+лазер.

Дополнительные аксессуары

CCD (ПЗС - прибор с зарядовой связью), EDS (рентгеновский детектор энергодисперсионной спектроскопии), EBSD (детектор дифракции обратно рассеянных электронов), CL (катодолюминесцентный детектор), WDS (система волнодисперсионного анализа), система напыления.

Технические характеристики