Многофункциональный дифрактометр высокого разрешения «Алмаз-Д» представляет собой специализированный аналитический комплекс для исследования структурных превращений и фазовой эволюции кристаллических материалов в условиях экстремальных давлений. Прибор предназначен для проведения прецизионных рентгеноструктурных исследований порошкообразных и монокристаллических образцов и позволяет отслеживать кинетику фазовых переходов, изменение параметров элементарной ячейки и перестройку кристаллической решётки в реальном времени.
В основе системы лежит технология алмазных наковален (DAC — Diamond Anvil Cell), обеспечивающая сверхвысокие давления в рабочей камере. Используется микрофокусный источник рентгеновского излучения с жидким анодом. Такое техническое решение позволяет формировать высококоллимированный пучок с минимальным расхождением, что критически важно для получения дифракционных картин высокого качества от образцов микроскопических размеров, характерных для экспериментов в алмазных ячейках.
Это открывает возможность проведения сложных структурных исследований, включая уточнение атомных координат, определение тензоров упругости и изучение механизмов структурных превращений под давлением, непосредственно в лабораторных условиях без необходимости доступа к крупным исследовательским установкам.
Характеристики:
|
Фокусное пятно рентгеновского источника |
< 30 мкм |
|
Мощность |
1 кВт |
|
Размер рентгеновского пятна на образце |
70 мкм |
|
Квантовая эффективность |
> 90% |
|
Динамический диапазон детектора |
32 бит |
|
Давление в алмазных наковальнях |
до 120 ГПа |