XRD-300

Многофункциональный порошковый дифрактометр XRD-300

Многофункциональные порошковые дифрактометры XRD-300 предназначены для научных и заводских лабораторий. Разработаны для рентгеноструктурного анализа органических и неорганических материалов, в т. ч. горных пород, глин, цементов, строительных материалов, продуктов химической промышленности, фармацевтических препаратов, полимеров.

Возможности:

– Идентификация неизвестных фаз на различных стадиях технологического процесса.

– Качественный и количественный фазовый анализ.

– Уточнение кристаллической структуры.

– Использование низко- и высокотемпературных приставок для проведения анализа.

– Рентгеноструктурный анализ тонкопленочных образцов (эффект полного внешнего отражения рентгеновского излучения).

– Анализ текстуры, микро- и макронапряжений в кристаллических материалах.

Технические характеристики:

Модель	XRD-300
Мощность	3 кВт
Напряжение на трубке	10–60 кВ
Ток трубки	5–80 мА
Тип рентгеновской трубки	Вакуумная стеклянная, керамическая; материал анода: Cu, Fe, Co, Cr, Mo и др. Максимальная мощность 2 кВт
Размер фокуса	1×10 мм, опционально 0,4×14 мм и 2×12 мм
Нестабильность характеристик	≤0,01%
Гониометр	Горизонтальный θ-2θ, с вертикальным расположением образца
Радиус	185 мм
Угловой диапазон сканирования	0–164°
Скорость сканирования	0,0012°–70°/мин.
Макс. скорость вращения гониометра	100°/мин.
Режимы измерения	θ-2θ, θ, 2θ; непрерывное и пошаговое сканирование
Мин. угловой шаг	1/1000°
Тип детектора	Пропорциональный счетчик, сцинтилляционный счетчик
Максимальная скорость счета в линейной области	5×10^5 фотон/с (с учетом поправки)
Коэффициент энергетического разрешения	≤25% (пропорциональный счетчик) ≤50% (сцинтилляционный счетчик)
Режим счета	Дифференциальный, интегральный, авто-PHA, поправка на мертвое время
Нестабильность счета	≤0,01%
Мощность дозы излучения за пределами защитного кожуха	≤1 мкЗв/час
Выходная нестабильность характеристик	≤0,5%
Габаритные размеры	1100×850×1750 мм