XRD-Y350
Многофункциональный дифрактометр высокого разрешения XRD-Y350
Рентгеновская дифрактометрия (XRD) — универсальный метод исследования кристаллической структуры и фазового состава проб и образцов.
Возможности:
– Идентификация неизвестных фаз на различных стадиях технологического процесса.
– Качественный и количественный фазовый анализ.
– Уточнение кристаллической структуры.
– Использование низко- и высокотемпературных приставок для проведения анализа.
– Рентгеноструктурный анализ тонкопленочных образцов (эффект полного внешнего отражения рентгеновского излучения).
– Анализ текстуры, микро- и макронапряжений в кристаллических материалах.
Технические характеристики:
|
Модель |
XRD-Y350 |
|
Мощность |
2 кВт (3 кВт) |
|
Напряжение на трубке |
10–50 кВ (10–60 кВ) |
|
Ток трубки |
5–40 мА (5–50 мА) |
|
Тип рентгеновской трубки |
Керамическая; материал анода: Cu (опционально Fe, Co, Cr, Mo и др.) |
|
Размер фокуса |
1×10 мм (опционально 0,4×14 мм и 2×12 мм) |
|
Нестабильность характеристик |
≤0,005% |
|
Гониометр |
Вертикальный θs-θd, с горизонтальным расположением образца |
|
Радиус |
185–300 мм |
|
Угловой диапазон сканирования |
-100° – 168° |
|
Режимы измерения |
θ-2θ, θ, 2θ; непрерывное и пошаговое сканирование |
|
Мин. угловой шаг |
0,0001° |
|
Угловое отклонение |
≤0,01° |
|
Тип детектора |
Сцинтилляционный счетчик (SC) (опционально 1D, SDD) |
|
Максимальная скорость счета в линейной области |
5×10^5 фотон/с (SC) 9×10^9 фотон/с (1D) 3×10^6 фотон/с (SDD) |
|
Коэффициент энергетического разрешения |
≤25% (1D, SDD) ≤50% (SC) |
|
Режим счета |
Дифференциальный, интегральный, авто-PHA, поправка на мертвое время |
|
Мощность дозы излучения за пределами защитного кожуха |
≤1 мкЗв/час |
|
Выходная нестабильность характеристик |
≤0,5% |
|
Габаритные размеры |
1320×1150×1860 мм |